HOME   STAFF   RESEARCH   ACCESS   学生募集


 
DEVICES/実験装置

millennium1
大電流クラスターイオンソース
Millennium Ⅰ)

millennium2
大面積クラスターイオンビーム照射装置
Millennium Ⅱ)

CL
反応性クラスター照射装置
(CL)

quantum2
高エネルギークラスターイオンビーム照射装置
Quantum Ⅱ)

gasclusterionbeam
ガスクラスターイオンビーム援用蒸着装置

MS
ガスクラスターイオンビーム二次イオン質量分析装置
(GCIB-AccuTOF 1)

microcluserbeam
ガスクラスターイオンビームタンデム型二次イオン質量分析装置
(GCIB-Q-TOF)

JSM
電解放出形走査型電子顕微鏡
(JSM-7505FS,JEOL)

SPM
走査型プローブ顕微鏡
(SPM-9500 J2, 島津製作所)

Dek
触針型段差計
(DeK Tak3, Veeco社)

ellipsometer
分光エリプソメーター

ts100
蛍光観察装置付倒立型顕微鏡
(TS-100, Nikon)

atx-g
表面構造評価用多機能X線回帰装置
(ATX-G, Rigaku)

mevion
MeV重イオンビーム二次イオン質量分析装置
(MeV-SIMS)

draft
酸・有機用ドラフト

mcv
生体試料用クリーンベンチ
(MCV-B91S, SANYO)


⇒ Go to Laboratory