大電流クラスターイオンソース (Millennium Ⅰ) |
![]() 大面積クラスターイオンビーム照射装置 (Millennium Ⅱ) |
反応性クラスター照射装置 (CL) |
高エネルギークラスターイオンビーム照射装置 (Quantum Ⅱ) |
ガスクラスターイオンビーム援用蒸着装置 |
![]() ガスクラスターイオンビーム二次イオン質量分析装置 (GCIB-AccuTOF 1) |
![]() ガスクラスターイオンビームタンデム型二次イオン質量分析装置 (GCIB-Q-TOF) |
電解放出形走査型電子顕微鏡 (JSM-7505FS,JEOL) |
走査型プローブ顕微鏡 (SPM-9500 J2, 島津製作所) |
![]() 触針型段差計 (DeK Tak3, Veeco社) |
![]() 分光エリプソメーター |
![]() 蛍光観察装置付倒立型顕微鏡 (TS-100, Nikon) |
![]() 表面構造評価用多機能X線回帰装置 (ATX-G, Rigaku) |
MeV重イオンビーム二次イオン質量分析装置 (MeV-SIMS) |
![]() 酸・有機用ドラフト |
![]() 生体試料用クリーンベンチ (MCV-B91S, SANYO) |
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